Doctorado en Ciencia de Materiales, Universidad Autónoma de Estado de México UAEM (2006)
Desempeño y Cargo
Nivel: TECNICO TITULAR C
Area: INTEGRIDAD Y DISE?O DE MAT COMP
Linea de investigación: Materiales Funcionales
SNI: I
Publicaciones
Ultimas 5 publicaciones:
J. Echeberria, J. Ollo, M.H. Bocanegra-Bernal, A. García-Reyes, C. Domínguez-Ríos,A. Aguilar-Elguézabal, A. Reyes-Rojas. Sinter and hot isostatic pressing (HIP) of multi-wall carbon nanotubes (MWCNTs) reinforced ZTA nanocomposite: Microstructure and fracture toughness. Internacional Journal of Refractory Metals & Hard Materials. Vol.28. No.3. pp399-406 (2010).
D. C. Burciaga-Valencia, M. Reyes-Cortés, A. Reyes-Rojas, M. Rentería-Villalobos, H. Esparza-Ponce, L. Fuentes-Cobas, L. Fuentes-Montero, M. Silva-Sáenz, E. Herrera-Peraza, A. Muñoz, M. E. Montero-Cabrera. Characterization of Uranium Minerals from Chihuahua using Synchrotron Radiation. Revista Mexicana de Física. Vol.56-S. No.1. pp75-81 (2010).
A. Reyes-Rojasa,??, H. Esparza-Poncea, S.D. De la Torreb, E. Torres-Moyea. Compressive strain-dependent bending strength property of Al2O3??ZrO2(1.5 mol% Y2O3) composites performance by HIP. Materials Chemistry and Physics. .
H.E. Esparza-Ponce, J. Hernández-Borja, A. Reyes-Rojas, M. Cervantes-Sánchez,Y.V. Vorobiev, R. Ramírez-Bon, J.F. Pérez-Robles, J. González-Hernández. Growth technology, X-ray and optical properties of CdSe thin films. Materials Chemistry and Physics. .
A. Reyes, C. de la Vega, Ma.E. Fuentes, L. Fuentes. BiFeO3: Synchrotron radiation structure refinement and magnetoelectric geometry. Journal of the European Ceramic Society. .
Areas de Interés
Investigación de nuevos materiales con potencial aplicación en celdas de combustible SOFC - PEMFC, ferroeléctricos-ferromagnéticos, cerámicas de alta tecnología en base circonia, alumina, etc.
Películas delgadas mediante erosión catódica (sputtering RF) y síntesis de nanomateriales mediante sol-gel y co-precipitación. Para lograrlo se usan las técnicas de caracterización cristalográfica, DRX, Rietveld, TEM, SEM, AFM, TGA-DTA y DSC